ION-TOF GmbH

Die ION-TOF GmbH ist der europäische Marktführer auf dem Gebiet der Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) und der hochempfindlichen niederenergetischen Ionenstreuung (LEIS).

Das Unternehmen wurde 1989 von Prof. Dr. Alfred Benninghoven, Dr. Ewald Niehuis und Herrn Thomas Heller aus der Universität Münster heraus mit dem Ziel gegründet, die dort durchgeführte Grundlagenforschung zu kommerzialisieren. Als inzwischen etabliertes Unternehmen im Bereich der Oberflächenanalytik gilt die Entwicklung der ION-TOF als erfolgreiches Beispiel für einen gelungenen Technologietransfer.

Seit ihrer Gründung arbeitet die ION-TOF kontinuierlich an der Erweiterung der Anwendungsgebiete und ist mit weltweit mehr als 190 installierten Geräten der bevorzugte Partner für den industriellen und akademischen Einsatz der angebotenen Techniken.

Technische Kompetenz, Leistungsfähigkeit, exzellenter Service und ein tiefgehendes Verständnis für die Anforderungen der Kunden an moderne Oberflächenanalytik sind die Basis für den Erfolg der ION-TOF. Um auch zukünftigen Anforderungen gerecht zu werden, engagieren sich die Wissenschaftler der ION-TOF nicht nur in der Geräteentwicklung, sondern betreiben auch Grundlagenforschung in Kooperation mit nationalen und internationalen Projektpartnern.